Conductive Atomic Force Microscopy: Applications in Nanomaterials - M Lanza - Libros - Wiley-VCH Verlag GmbH - 9783527340910 - 11 de octubre de 2017
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Conductive Atomic Force Microscopy: Applications in Nanomaterials

M Lanza

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Conductive Atomic Force Microscopy: Applications in Nanomaterials

The first book to summarize the applications of CAFM as the most important method in the study of electronic properties of materials and devices at the nanoscale.

400 pages

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 11 de octubre de 2017
ISBN13 9783527340910
Editores Wiley-VCH Verlag GmbH
Páginas 384
Dimensiones 251 × 176 × 25 mm   ·   978 g
Lengua English  
Editor Lanza, Mario

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