CMOS RF Circuit Design for Reliability and Variability - SpringerBriefs in Applied Sciences and Technology - Jiann-Shiun Yuan - Libros - Springer Verlag, Singapore - 9789811008825 - 21 de abril de 2016
En caso de que portada y título no coincidan, el título será el correcto

Jiann-Shiun Yuan
CMOS RF Circuit Design for Reliability and Variability - SpringerBriefs in Applied Sciences and Technology 1st ed. 2016 edition

Precio
€ 49,99

Pedido desde almacén remoto

Entrega prevista 25 de dic. - 2 de ene. de 2026
Los regalos de Navidad se podrán canjear hasta el 31 de enero

Nuestros clientes opinan:

Política de devolución de 14 días conforme a la legislación europea de protección de los consumidores
Mejor valorado en Trustpilot
Añadir a tu lista de deseos de iMusic

The subject of this book is CMOS RF circuit design for reliability. The device reliability and process variation issues on RF transmitter and receiver circuits will be particular interest to the readers in the field of semiconductor devices and circuits.

106 pages, 101 black & white illustrations, biography

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 21 de abril de 2016
ISBN13 9789811008825
Editores Springer Verlag, Singapore
Páginas 106
Dimensiones 155 × 235 × 6 mm   ·   1,83 kg

Mas por Jiann-Shiun Yuan

Mostrar todo

Ver todo de Jiann-Shiun Yuan ( Ej. Book y Paperback Book )