Reliability and Failure of Electronic Materials and Devices - Ohring, Milton (Stevens Institute of Technology, Hoboken, NJ, USA (Retired)) - Libros - Elsevier Science Publishing Co Inc - 9780120885749 - 1 de diciembre de 2014
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Reliability and Failure of Electronic Materials and Devices 2.º edición

Ohring, Milton (Stevens Institute of Technology, Hoboken, NJ, USA (Retired))

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Reliability and Failure of Electronic Materials and Devices 2.º edición

Offers coverage of some of the major topics related to the performance and failure of materials used in electronic devices and electronics packaging. This book explains the common mechanisms that lead to electronics materials failures, including dielectric breakdown, hot-electron effects and radiation damage.

758 pages, colour illustrations

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 1 de diciembre de 2014
ISBN13 9780120885749
Editores Elsevier Science Publishing Co Inc
Páginas 758
Dimensiones 165 × 232 × 46 mm   ·   1,17 kg
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