Mapping Nanotechnology Innovations and Knowledge: Global and Longitudinal Patent and Literature Analysis - Integrated Series in Information Systems - Hsinchun Chen - Libros - Springer-Verlag New York Inc. - 9780387716190 - 4 de diciembre de 2008
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Mapping Nanotechnology Innovations and Knowledge: Global and Longitudinal Patent and Literature Analysis - Integrated Series in Information Systems 2009 edition

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The result of these analyses is be a systematic presentation of the state of the art of nanotechnology, which will include basic analysis, content analysis, and citation network analysis of comprehensive nanotechnology findings across technology domains, inventors, institutions, and countries.


330 pages, 117 black & white tables, biography

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 4 de diciembre de 2008
ISBN13 9780387716190
Editores Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 330
Dimensiones 155 × 235 × 20 mm   ·   725 g
Lengua Inglés  

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