Advances in Optics of Charged Particle Analyzers: Part 1 - Advances in Imaging and Electron Physics - - Libros - Elsevier Science Publishing Co Inc - 9780443297861 - 25 de noviembre de 2024
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Advances in Optics of Charged Particle Analyzers: Part 1 - Advances in Imaging and Electron Physics

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Advances in Optics of Charged Particle Analyzers: Part 1 - Advances in Imaging and Electron Physics

232 pages

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Pendiente de lanzamiento 25 de noviembre de 2024
ISBN13 9780443297861
Editores Elsevier Science Publishing Co Inc
Páginas 232
Dimensiones 497 g   (Peso (estimado))
Editor de series Hawkes, Peter W. (Founder-President of the European Microscopy Society and Fellow, Microscopy and Optical Societies of America; member of the editorial boards of several microscopy journals and Serial Editor, Advances in Electron Optics, France)
Editor de series Hytch, Martin (Senior Scientist, French National Centre for Research (CNRS), Toulouse, France)