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Electron Microscopy and Analysis Peter J. Goodhew 3.º edición
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Electron Microscopy and Analysis
Peter J. Goodhew
A guide to scanning and transmission microscopes and to the analytical techniques based on them. It covers the techniques of electron energy loss spectroscopy and energy dispersive X-ray analysis. It compares electron microscopic techniques to many of the competing physical investigative techniques available.
254 pages, 147 colour illustrations
| Medios de comunicación | Libros Paperback Book (Libro con tapa blanda y lomo encolado) |
| Publicado | 30 de noviembre de 2000 |
| ISBN13 | 9780748409686 |
| Editores | Taylor & Francis Ltd |
| Páginas | 264 |
| Dimensiones | 236 × 157 × 16 mm · 420 g |
| Lengua | Inglés |
