Defects in SiO2 and Related Dielectrics: Science and Technology - NATO Science Series II Softcover reprint of the original 1st ed. 2000 edition

Gianfranco Pacchioni

Precio

CA$ 333,31

Pedido desde almacén remoto

Entrega prevista 16 - 28 de oct.

Nuestros clientes opinan:

Añadir a tu lista de deseos de iMusic

Proceedings of the NATO Advanced Study Institute, Erice, Italy, April 8-20, 2000

624 pages, 87 black & white illustrations, biography

Medios de comunicación	Libros Paperback Book (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado	31 de diciembre de 2000
ISBN13	9780792366867
Editores	Springer
Páginas	624
Dimensiones	153 × 234 × 20 mm · 875 g
Lengua	English
Editor	Griscom, David L.
Editor	Pacchioni, Gianfranco
Editor	Skuja, Linards

Mostrar todo