Mems Reliability For Critical and Space Applications - Lawton - Libros - SPIE Press - 9780819434777 - 31 de agosto de 1999
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Mems Reliability For Critical and Space Applications

Lawton

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Mems Reliability For Critical and Space Applications

A selection of scientific papers on the reliability of microelectromechanical systems (MEMS) for critical and space applications.

176 pages, illustrations

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 31 de agosto de 1999
ISBN13 9780819434777
Editores SPIE Press
Páginas 176
Dimensiones 393 g   (Peso (estimado))
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