MOS Interface Physics, Process and Characterization - Shengkai Wang - Libros - Taylor & Francis Ltd - 9781032106274 - 12 de octubre de 2021
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Shengkai Wang
MOS Interface Physics, Process and Characterization 1.º edición

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The electronic device based on Metal Oxide Semiconductor (MOS) structure is the most important component of a large-scale integrated circuit and the key to achieving high performance devices. This book contains experimental examples focusing on MOS and will be a reference for academics and postgraduates in the field of microelectronics.

200 pages, 97 Line drawings, black and white; 26 Halftones, black and white; 1 Tables, black and whi

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 12 de octubre de 2021
ISBN13 9781032106274
Editores Taylor & Francis Ltd
Páginas 162
Dimensiones 235 × 157 × 17 mm   ·   390 g
Lengua Inglés  

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