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Nanometrology Using Transmission Electron Microscopy
Vlad Stolojan
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Nanometrology Using Transmission Electron Microscopy
Vlad Stolojan
The Transmission Electron Microscope (TEM) is the ultimate tool to see and measure structures on the nanoscale and to probe their elemental composition and electronic structure with sub-nanometer spatial resolution. This book is a practical guide for scientists who need to use the TEM as a tool to answer questions about physical and chemical phenomena on the nanoscale.
85 pages, colour illustrations
| Medios de comunicación | Libros Paperback Book (Libro con tapa blanda y lomo encolado) |
| Publicado | 12 de octubre de 2015 |
| ISBN13 | 9781681740560 |
| Editores | Morgan & Claypool Publishers |
| Páginas | 85 |
| Dimensiones | 178 × 256 × 10 mm · 136 g |
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