Rf and Microwave Modeling and Measurement Techniques for Field Effect Transistors - Electromagnetics and Radar - Jianjun Gao - Libros - SciTech Publishing Inc - 9781891121890 - 30 de junio de 2010
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Jianjun Gao
Rf and Microwave Modeling and Measurement Techniques for Field Effect Transistors - Electromagnetics and Radar

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350 pages, illustrations

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 30 de junio de 2010
ISBN13 9781891121890
Editores SciTech Publishing Inc
Páginas 350
Dimensiones 150 × 220 × 20 mm   ·   589 g

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