Applied Scanning Probe Methods III: Characterization - NanoScience and Technology -  - Libros - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642065965 - 12 de febrero de 2010
En caso de que portada y título no coincidan, el título será el correcto

Applied Scanning Probe Methods III: Characterization - NanoScience and Technology Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2006 edition

Precio
€ 102,49

Pedido desde almacén remoto

Entrega prevista 23 - 31 de jul.
Añadir a tu lista de deseos de iMusic

Aún no valorado

There are signi?cant differences between the Scanning Probe Microscopes or SPM, and others such as the Scanning Electron Microscope or SEM.


378 pages, 268 black & white illustrations, 2 colour illustrations, 3 black & white tables, biograph

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 12 de febrero de 2010
ISBN13 9783642065965
Editores Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Páginas 378
Dimensiones 155 × 235 × 21 mm   ·   639 g
Lengua Alemán  
Editor Bhushan, Bharat
Editor Fuchs, Harald

Mere med samme udgiver