Fundamentals of Bias Temperature Instability in MOS Transistors: Characterization Methods, Process and Materials Impact, DC and AC Modeling - Springer Series in Advanced Microelectronics - - Libros - Springer, India, Private Ltd - 9788132234241 - 23 de octubre de 2016
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Fundamentals of Bias Temperature Instability in MOS Transistors: Characterization Methods, Process and Materials Impact, DC and AC Modeling - Springer Series in Advanced Microelectronics Softcover reprint of the original 1st ed. 2016 edition

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269 pages, 17 Tables, black and white; 67 Illustrations, color; 134 Illustrations, black and white;

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 23 de octubre de 2016
ISBN13 9788132234241
Editores Springer, India, Private Ltd
Páginas 269
Dimensiones 150 × 220 × 10 mm   ·   493 g
Editor Mahapatra, Souvik