Advanced VLSI Design and Testability Issues -  - Libros - Taylor & Francis Ltd - 9780367538361 - 15 de abril de 2022
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Advanced VLSI Design and Testability Issues 1.º edición

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This book provides in-depth knowledge of VLSI and also the broad aspects of it by explaining its applications in different fields e.g. image processing and biomedical. The role of fault simulation algorithms is very well explained and its implementation using Verilog is the key aspect of this book.


360 pages, 29 Tables, black and white; 192 Illustrations, black and white

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 15 de abril de 2022
ISBN13 9780367538361
Editores Taylor & Francis Ltd
Páginas 360
Dimensiones 154 × 234 × 35 mm   ·   570 g
Lengua Inglés  
Editor Mohapatra, Sushanta Kumar (Kalinga Institute of Industrial Technology, India.)
Editor Saxena, Sobhit (Lovely Professional University University, India.)
Editor Tripathi, Suman Lata (Lovely Professional University, India)

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