Applied Measurement with jMetrik - Meyer, J. Patrick (University of Virginia, USA) - Libros - Taylor & Francis Ltd - 9780415531955 - 27 de junio de 2014
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Applied Measurement with jMetrik 1.º edición

Meyer, J. Patrick (University of Virginia, USA)

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Applied Measurement with jMetrik 1.º edición

Applied Measurement with jMetrik reviews psychometric theory and describes how to use jMetrik to conduct a comprehensive psychometric analysis.

55 black & white illustrations, 4 black & white tables, 19 black & white line drawings

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 27 de junio de 2014
ISBN13 9780415531955
Editores Taylor & Francis Ltd
Páginas 170
Dimensiones 152 × 229 × 15 mm   ·   362 g
Lengua English  

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