Atomic Force Microscopy: Understanding Basic Modes and Advanced Applications - Greg Haugstad - Libros - John Wiley & Sons Inc - 9780470638828 - 16 de octubre de 2012
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Greg Haugstad
Atomic Force Microscopy: Understanding Basic Modes and Advanced Applications

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This book enlightens readers on the basic surface properties and distance-dependent intersurface forces one must understand to obtain even simple data from an atomic force microscope (AFM).

488 pages, Illustrations

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 16 de octubre de 2012
ISBN13 9780470638828
Editores John Wiley & Sons Inc
Páginas 528
Dimensiones 163 × 244 × 31 mm   ·   794 g
Lengua Inglés  

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