Built In Test for VLSI: Pseudorandom Techniques - Bardell, Paul H. (IBM Corporation, Armonk, NY) - Libros - John Wiley & Sons Inc - 9780471624639 - 2 de diciembre de 1987
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Built In Test for VLSI: Pseudorandom Techniques

Bardell, Paul H. (IBM Corporation, Armonk, NY)

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Built In Test for VLSI: Pseudorandom Techniques

Presents the major concepts, techniques, problems and solutions in the emerging field of pseudorandom pattern testing. The intention of this book is to present the material in a unified manner, making it a useful source for practising professionals and students.

368 pages, Ill.

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 2 de diciembre de 1987
ISBN13 9780471624639
Editores John Wiley & Sons Inc
Páginas 368
Dimensiones 165 × 240 × 23 mm   ·   610 g

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