Multi-chip Module Test Strategies - Frontiers in Electronic Testing Reprinted from Journal of Electronic Testing, 10:1 edition

Yervant Zorian

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Multi-chip Module Test Strategies - Frontiers in Electronic Testing Reprinted from Journal of Electronic Testing, 10:1 edition

This volume of research presents updated test strategies for MCMs. It is designed for engineers interested in practical implementations of MCM test solutions and for designers seeking current test and design-for-testability solutions for their next designs.

167 pages, biography

Medios de comunicación	Libros Hardcover Book (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado	31 de mayo de 1997
ISBN13	9780792399209
Editores	Kluwer Academic Publishers
Páginas	167
Dimensiones	203 × 254 × 11 mm · 535 g
Lengua	English
Editor	Zorian, Yervant

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