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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability: A Physics of Failure Approach 1.º edición
Pradeep Lall
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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability: A Physics of Failure Approach 1.º edición
Pradeep Lall
This book provides a sound scientific basis for achieving system operation without reliability penalties at realistic steady state temperatures. guidelines for thermal derating of microelectronic devices.
336 pages, 30 black & white tables
| Medios de comunicación | Libros Hardcover Book (Libro con lomo y cubierta duros) |
| Publicado | 24 de abril de 1997 |
| ISBN13 | 9780849394508 |
| Editores | Taylor & Francis Inc |
| Páginas | 328 |
| Dimensiones | 184 × 264 × 23 mm · 794 g |
| Lengua | English |
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