Emerging Nanotechnologies: Test, Defect Tolerance, and Reliability - Frontiers in Electronic Testing - Mohammad Tehranipoor - Libros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781441945136 - 23 de noviembre de 2010
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Mohammad Tehranipoor
Emerging Nanotechnologies: Test, Defect Tolerance, and Reliability - Frontiers in Electronic Testing Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2008 edition

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Emerging Nanotechnologies: Test, Defect Tolerance and Reliability covers various technologies that have been developing over the last decades such as chemically assembled electronic nanotechnology, Quantum-dot Cellular Automata (QCA), and nanowires and carbon nanotubes.

422 pages, black & white illustrations

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 23 de noviembre de 2010
ISBN13 9781441945136
Editores Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 408
Dimensiones 155 × 235 × 21 mm   ·   589 g
Lengua Inglés  
Editor Tehranipoor, Mohammad

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