High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability - Stephan Eggersgluss - Libros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781441999757 - 31 de enero de 2012
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High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability 2012 edition

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This book provides an overview of automatic test pattern generation (ATPG) and introduces novel techniques to complement classical ATPG, based on Boolean Satisfiability (SAT). It presents a fast and highly fault efficient SAT-based ATPG framework.


193 pages, 52 black & white tables, biography

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 31 de enero de 2012
Fecha de lanzamiento original 2011
ISBN13 9781441999757
Editores Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 193
Dimensiones 155 × 235 × 12 mm   ·   476 g
Lengua Inglés  

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