Practical Scanning Electron Microscopy: Electron and Ion Microprobe Analysis - Joseph Goldstein - Libros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461344247 - 12 de octubre de 2011
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Practical Scanning Electron Microscopy: Electron and Ion Microprobe Analysis Softcover reprint of the original 1st ed. 1975 edition

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In the spring of 1963, a well-known research institute made a market survey to assess how many scanning electron microscopes might be sold in the United States. This range overlaps considerably with the light microscope at the low end, and with the electron microscope at the high end.


582 pages, biography

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 12 de octubre de 2011
ISBN13 9781461344247
Editores Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 582
Dimensiones 155 × 235 × 31 mm   ·   834 g
Lengua Inglés  
Editor Goldstein, Joseph

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