Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs - Ruijing Shen - Libros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781489987877 - 13 de abril de 2014
En caso de que portada y título no coincidan, el título será el correcto

Ruijing Shen
Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs 2012 edition

Precio
€ 104,49

Pedido desde almacén remoto

Entrega prevista 23 - 31 de jul.
Recibe notificaciones sobre nuevos lanzamientos de Ruijing Shen

Nuestros clientes opinan:

Política de devolución de 14 días conforme a la legislación europea de protección de los consumidores
Mejor valorado en Trustpilot
Añadir a tu lista de deseos de iMusic

Aún no valorado

También disponible como:

This book covers statistical modeling and analysis of VLSI systems with a focus on interconnects, on-chip power grids and clock networks and analog/mixed-signal circuits. It offers an analysis of each algorithm with applications in real circuit design.

306 pages, 61 black & white tables, biography

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 13 de abril de 2014
ISBN13 9781489987877
Editores Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 306
Dimensiones 155 × 235 × 18 mm   ·   511 g
Lengua Inglés  

Más del mismo editor

Ver todo de Ruijing Shen ( Ej. Hardcover Book y Paperback Book )