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Rf and Microwave Modeling and Measurement Techniques for Field Effect Transistors - Electromagnetics and Radar
Jianjun Gao
Rf and Microwave Modeling and Measurement Techniques for Field Effect Transistors - Electromagnetics and Radar
Jianjun Gao
350 pages, illustrations
Medios de comunicación | Libros Hardcover Book (Libro con lomo y cubierta duros) |
Publicado | 30 de junio de 2010 |
ISBN13 | 9781891121890 |
Editores | SciTech Publishing Inc |
Páginas | 350 |
Dimensiones | 589 g |