Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults - Ireneusz Mrozek - Libros - Springer Nature Switzerland AG - 9783030081980 - 1 de febrero de 2019
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Ireneusz Mrozek
Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults Softcover reprint of the original 1st ed. 2019 edition

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This book describes efficient techniques for production testing as well as for periodic maintenance testing (specifically in terms of multi-cell faults) in modern semiconductor memory.

135 pages, 50 Tables, color; 34 Illustrations, black and white; X, 135 p. 34 illus.

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 1 de febrero de 2019
ISBN13 9783030081980
Editores Springer Nature Switzerland AG
Páginas 135
Dimensiones 150 × 220 × 10 mm   ·   454 g
Lengua Alemán  

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