Soft Error Reliability of VLSI Circuits: Analysis and Mitigation Techniques - Behnam Ghavami - Libros - Springer Nature Switzerland AG - 9783030516123 - 14 de octubre de 2021
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Behnam Ghavami
Soft Error Reliability of VLSI Circuits: Analysis and Mitigation Techniques 2021 edition

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Coverage includes novel Soft Error Rate (SER) analysis techniques such as process variation aware SER estimationand GPU accelerated SER analysis techniques, in addition to SER reduction methods such as gate sizing and logic restructuring based SER techniques.

114 pages, 50 Tables, color; 9 Illustrations, color; 30 Illustrations, black and white; XIII, 114 p.

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 14 de octubre de 2021
ISBN13 9783030516123
Editores Springer Nature Switzerland AG
Páginas 114
Dimensiones 150 × 220 × 10 mm   ·   209 g
Lengua Alemán  

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