Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon - Computational Microelectronics - Peter Pichler - Libros - Springer Verlag GmbH - 9783211206874 - 2 de junio de 2004
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Peter Pichler
Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon - Computational Microelectronics 2004 edition

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This book contains the first comprehensive review of intrinsic point defects, impurities and their complexes in silicon.

554 pages, 40 black & white illustrations, biography

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 2 de junio de 2004
ISBN13 9783211206874
Editores Springer Verlag GmbH
Páginas 554
Dimensiones 178 × 254 × 31 mm   ·   1,18 kg
Lengua Inglés   Alemán  

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