Applied Scanning Probe Methods XII: Characterization - NanoScience and Technology -  - Libros - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783540850380 - 4 de noviembre de 2008
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Applied Scanning Probe Methods XII: Characterization - NanoScience and Technology 2009 edition


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Additi- ally they might be damaged by the electron beam of the microscope or the vacuum might cause outgasing of solvents or evaporation of water and thus change material properties.


279 pages, 14 black & white tables, biography

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 4 de noviembre de 2008
ISBN13 9783540850380
Editores Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Páginas 224
Dimensiones 162 × 244 × 16 mm   ·   594 g
Lengua Alemán  
Editor Bhushan, Bharat
Editor Fuchs, Harald

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