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Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials - Springer Series in Advanced Microelectronics Otwin Breitenstein Softcover reprint of hardcover 2nd ed. 2010 edition
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Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials - Springer Series in Advanced Microelectronics
Otwin Breitenstein
Lock-in Thermography focuses on this sensitive infrared measurement system that offers a more effective analytical capability. Though mainly covering applications in electronic materials and devices, readers will also find treatment of nondestructive evaluation.
258 pages, 56 black & white illustrations, 33 colour illustrations, biography
| Medios de comunicación | Libros Paperback Book (Libro con tapa blanda y lomo encolado) |
| Publicado | 6 de noviembre de 2012 |
| ISBN13 | 9783642264788 |
| Editores | Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm |
| Páginas | 258 |
| Dimensiones | 155 × 235 × 18 mm · 385 g |
| Lengua | Inglés |