Kelvin Probe Force Microscopy: Measuring and Compensating Electrostatic Forces - Springer Series in Surface Sciences - Sascha Sadewasser - Libros - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642271137 - 30 de noviembre de 2013
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Sascha Sadewasser
Kelvin Probe Force Microscopy: Measuring and Compensating Electrostatic Forces - Springer Series in Surface Sciences

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Over the nearly 20 years of Kelvin probe force microscopy, an increasing interest in the technique and its applications has developed. Surface potential studies on semiconductor materials, nanostructures and devices are described, as well as application to molecular and organic materials.

290 pages, biography

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 30 de noviembre de 2013
ISBN13 9783642271137
Editores Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Páginas 334
Dimensiones 156 × 236 × 23 mm   ·   485 g
Lengua Francés  
Editor Glatzel, Thilo
Editor Sadewasser, Sascha

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