Field-Ion Microscopy - Crystals - R. Wagner - Libros - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642686894 - 7 de diciembre de 2011
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Field-Ion Microscopy - Crystals Softcover reprint of the original 1st ed. 1982 edition

R. Wagner

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Field-Ion Microscopy - Crystals Softcover reprint of the original 1st ed. 1982 edition

Despite the recent progress in developing various microanalytical tools of better spatial resolution and more sensitivity to chemical analyses for the study of various defects in metallic solids the Field-Ion Microscope (FIM) still remains the only instrument up to now to resolve single atoms in the surface of a metal.

134 pages, biography

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 7 de diciembre de 2011
ISBN13 9783642686894
Editores Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Páginas 118
Dimensiones 170 × 244 × 7 mm   ·   226 g
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