Fundamentals of Bias Temperature Instability in MOS Transistors: Characterization Methods, Process and Materials Impact, DC and AC Modeling - Springer Series in Advanced Microelectronics - Souvik Mahapatra - Libros - Springer, India, Private Ltd - 9788132225072 - 14 de agosto de 2015
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Souvik Mahapatra
Fundamentals of Bias Temperature Instability in MOS Transistors: Characterization Methods, Process and Materials Impact, DC and AC Modeling - Springer Series in Advanced Microelectronics 1st ed. 2015 edition

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269 pages, 133 black & white illustrations, 68 colour illustrations, 17 black & white tables, biogra

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 14 de agosto de 2015
ISBN13 9788132225072
Editores Springer, India, Private Ltd
Páginas 269
Dimensiones 155 × 235 × 20 mm   ·   689 g
Editor Mahapatra, Souvik

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