Ion Beam Surface Layer Analysis: Volume 2 - Otto Meyer - Libros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461588818 - 30 de enero de 2012
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Ion Beam Surface Layer Analysis: Volume 2 Softcover reprint of the original 1st ed. 1976 edition

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The major topic of that and the present conference was the material analysis with ion beams including backscattering and channeling, nuclear reactions and ion induced X-rays with emphasis on technical problems and no vel applications.


508 pages, biography

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 30 de enero de 2012
ISBN13 9781461588818
Editores Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 491
Dimensiones 178 × 254 × 26 mm   ·   879 g
Lengua Inglés  
Editor Meyer, Otto

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