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Ion Beam Surface Layer Analysis: Volume 2 Otto Meyer Softcover reprint of the original 1st ed. 1976 edition
Ion Beam Surface Layer Analysis: Volume 2
Otto Meyer
The major topic of that and the present conference was the material analysis with ion beams including backscattering and channeling, nuclear reactions and ion induced X-rays with emphasis on technical problems and no vel applications.
508 pages, biography
| Medios de comunicación | Libros Paperback Book (Libro con tapa blanda y lomo encolado) |
| Publicado | 30 de enero de 2012 |
| ISBN13 | 9781461588818 |
| Editores | Springer-Verlag New York Inc. |
| Páginas | 491 |
| Dimensiones | 178 × 254 × 26 mm · 879 g |
| Lengua | Inglés |
| Editor | Meyer, Otto |
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