Scanning Probe Microscopy: Atomic Scale Engineering by Forces and Currents - NanoScience and Technology - Adam Foster - Libros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781441923066 - 23 de noviembre de 2010
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Scanning Probe Microscopy: Atomic Scale Engineering by Forces and Currents - NanoScience and Technology Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2006 edition

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Scanning Probe Microscopy provides a comprehensive source of information for researchers, teachers, and graduate students about the rapidly expanding field of scanning probe theory.


282 pages, biography

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 23 de noviembre de 2010
ISBN13 9781441923066
Editores Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 282
Dimensiones 155 × 235 × 16 mm   ·   417 g
Lengua Inglés  

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